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全譜波長掃描儀

全譜波長掃描儀

簡要描述:

全譜波長掃描儀:數(shù)字多道分析儀12位,80M/s的模數(shù)轉(zhuǎn)換采樣率,是業(yè)界分辨率的信號采樣系統(tǒng),保證了信號采集的完整性基于高速FPGA框架以及可靠的數(shù)字信號處理算法,4096道分析系統(tǒng)足以從噪聲中篩選正確的X射線信號

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全譜波長掃描儀性能特點:

創(chuàng)新的測角儀設(shè)計
保護的創(chuàng)新型鋼帶傳動系統(tǒng),可以提供穩(wěn)定、無回程間隙的旋轉(zhuǎn)運動,以保證精度的角度定位要求;
θ/2θ兩軸獨立運動,并配合伺服電機和圓光柵構(gòu)成閉環(huán)系統(tǒng);
永磁式交流伺服電機提供業(yè)界的高速平滑運動;
圓光柵測角重復(fù)性可達±0.0002度,精度達±0.0006度,足以保證優(yōu)異的角度測量性能;

數(shù)字多道分析儀
12位,80M/s的模數(shù)轉(zhuǎn)換采樣率,是業(yè)界分辨率的信號采樣系統(tǒng),保證了信號采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的數(shù)字信號處理算法,4096道分析系統(tǒng)足以從噪聲中篩選正確的X射線信號
大動態(tài)范圍測量,有效減少了探測器增益調(diào)節(jié)次數(shù)

X射線光管和高壓
標(biāo)準(zhǔn)的4kW大功率電源系統(tǒng),支持高靈敏度的痕量檢測以及更快的檢驗速度
50um/75um的鈹窗厚度保證超高的X射線穿透率,尤其適合低能X射線穿過
高壓電源電壓和電流可達60kV和160mA,用戶可根據(jù)實際需要靈活設(shè)置電壓和電流參數(shù)
雙通道水冷系統(tǒng),電導(dǎo)率保持在1uS以下,以限度延長光管工作壽命其他
多可支持10塊晶體,可根據(jù)客戶需求提供專門優(yōu)化的人工多層膜晶體,以提升輕元素的檢測能力
薄可達0.3um的正比流氣計數(shù)器窗膜,極大提升了輕元素的光通量

其他:
光譜室溫度控制穩(wěn)定性在±0.05C以內(nèi)
晶體、準(zhǔn)直器和濾光片都采用自動切換控制
軟件
完整而豐富的軟件功能
32位軟件系統(tǒng),優(yōu)異的可操作性和人機交互界面
成熟的經(jīng)驗系數(shù)法配合標(biāo)準(zhǔn)樣品提供準(zhǔn)確可靠的檢測數(shù)據(jù)
基本參數(shù)法可提供多樣化的分析手段,可進行無標(biāo)樣的半定量和定量分析
集成的SQLite數(shù)據(jù)庫用于保存實驗數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)查詢和管理

全譜波長掃描儀技術(shù)指標(biāo)

進樣系統(tǒng)
樣品形式:固體
樣品尺寸:51.5 mm  × 40 mm
樣品重量:重500g
進樣系統(tǒng):雙進樣系統(tǒng),標(biāo)備除塵過濾器和預(yù)抽真空系統(tǒng);一個樣品測量的同時給另一個樣品預(yù)抽真空,互不干擾
自動進樣機:自動機械手進樣系統(tǒng),多可裝168個樣品
自旋裝置:3種自旋速度(低、中、高)
X射線光管
鈹窗:50um/75um超薄鈹窗,用以保證X射線的高通過率
陽極靶材料:標(biāo)配銠靶,可選銅靶、鉬靶、鎢靶,鉻靶,鉑靶等
工作模式:樣品進樣時保持工作狀態(tài)不變
水冷系統(tǒng):雙路水循環(huán)系統(tǒng),電導(dǎo)率保持在1uS以下
高壓電源
輸出方式:1kV和1mA的標(biāo)準(zhǔn)調(diào)節(jié)單位,通過12位DA進行精細(xì)調(diào)節(jié)
長時間穩(wěn)定性:0.01%/8 hours
溫度穩(wěn)定性:50 ppm/C
(20 ppm/C可選).
數(shù)據(jù)
功率:4kW
KV/mA范圍:電壓20-60KV,電流10-140mA;電壓75kV,電流160mA可選.
測角儀
工作模式:創(chuàng)新型鋼帶傳動系統(tǒng),無摩擦,無回程間隙,帶有圓光柵反饋,θ/2θ兩軸獨立運動
轉(zhuǎn)角速度:6000  2θ/min
測角精度:0.006° θ / 2θ
測角重復(fù)性:0.0002° θ / 2θ
步進角度:小 0.0001°,1°
角度掃描范圍:流氣比例計數(shù)器:12° to 150°@2θ
閃爍計數(shù)器: 0° to 120°@2θ
光路
準(zhǔn)直器面罩:單面罩,(其他尺寸27, 32 or 50mm可選)
主準(zhǔn)直器:多可裝3個: 100, 150, 300, 550, 700 or 4000 um, 可選
主濾光片:多4片: Pb,Al,Cu等元素可選
晶體:多10個: LiF420,LiF220,LiF200,Ge111,PE002,InSb, TIAP,以及用于輕元素測量的各種人工多層膜晶體.
探測器:流氣比例計數(shù)器 (FPC), 可配0.3um厚的窗膜
閃爍計數(shù)器 (SC)
光室真空度:<15Pa
信號處理
數(shù)字多道分析儀:12位,80M/s采樣速度,4096道分析能力,采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信號和噪聲分離
計數(shù)率:流氣比例計數(shù)器:2Mcps
閃爍計數(shù)器: 1.5Mcps
脈沖漂移和增益校正:自動
時間校正:自動


地址:深圳市寶安區(qū)松崗鎮(zhèn)江邊創(chuàng)業(yè)一路福興工業(yè)園
18926776507
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